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X射线衍射如何用于可靠地研究纳米结构材料
为了比较这两种方法引入的缺陷密度，XLPA测量了X射线在穿过时如何被材料中包含的微结构衍射。这里的问题是XLPA获得的有关缺陷结构的信息是否可靠，因为这种方法仅通过X射线的散射来间接研究材料。或者，透射电子显微镜(TEM)可以提供这些微结构的详细图像，但只能用于研究微小的体积。在他的分析中，Gubicza将通过XLPA
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